X射线荧光光谱仪

岛津
EDX-LE Plus

贵金属成分分析+有害物质分析+宝石定性+镀层厚度分析功能四合一
单次测试可同时分析贵金属成色和有害物质含量，节省时间
适合于珠宝行业的内置专用分析测量软件：含 Au 、Ag、 Pt和Pd 4种校准分析工作曲线

满足贵金属国标《GBT 18043-2013 首饰贵金属含量的测定 X射线荧光光谱法》和《GB 28480-2012 饰品有害元素限量的规定》
- 测定方法
  
  能量色散型
- 测定原理
  
  X射线荧光分析法
- 测定对象
  
  固体、液体、粉末、各类金属、非金属、珠宝、金银铂钯、塑胶、油墨等
- 测定范围
  
  13Al—92U

Control Render Error!ControlType:productSlideBind,StyleName:Style1,ColorName:Item0,Message:InitError, ControlType:productSlideBind Error:未将对象引用设置到对象的实例。